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T1- 表面粗糙度与轮廓综合测量系统

T1 是一个完美的表面粗糙度与轮廓测量综合设备。

可扩展升级增加粗糙度测量功能在同一个系统上。真正实现一次表面扫描, 同时进行表面轮廓及粗糙度的测量及分析。而且可以任意选择扫描后之轮廓曲线任何段落同步检视粗糙度和轮廓尺寸, 并可报告及打印在同一报表上。

技术规格∶

- 轮廓测量范围 (Z-轴方向): 320 mm

- 轮廓测量范围 (X-轴方向双向): 250 mm

- 轮廓测量精度: + / - (1.5+L/100)µm "单轴" (L = 有效测量长度，mm)

- 测量系统: X、Z 轴非接触光学光栅系统

- 测量力: 40 mN/4g, 沿Z-轴双向

- 测量速度: 0.1 - 3 mm/s (自动优化)

- 定位速度: 可达 25 mm/s

- 测臂: QuadraMatic 高刚度测臂; 插入式, 动态弯曲因素计算机补偿
   
- 测球: 半径 25 um 的标准硬质合金轮廓测球

- 支撑台: 一体化,

- 表面尺寸: 200 x 237 mm, 13 mm (Y-轴调节范围)

- 工作台承重: 最多 15 kg

- 设备尺寸: 860 x 250 x 720 mm (长x宽x高)

- 重量: 约 70 kg

 

          T1 （带双测针）